去包裹算法相关论文
采用集成频闪成像结合显微干涉技术研制了微机电系统(MEMS)的静动态性测试系统。通过控制LD闪光的频率与MEMS器件激励信号的频率一......
提出了一种新的相位去包裹算法,主要针对光学光滑表面以及由于少数低调制度点、散斑点、噪声或灰尘(以下简称误差点)引起的去包裹......
提出了一种新的相位去包裹算法,主要针对那些条纹数少,条纹质量相对较好,仅仅是由于少数低调制度点、散斑点、噪声或灰尘引起的去......
本文对激光散斑无损检测系统中的条纹图象滤波算法、相位去包裹算法和缺陷识别算法进行了研究。对应用于本系统的一些现有算法的实......
相位去包裹是移相干涉技术中关键的组成部分。一些去包裹算法在处理具有较多无效成像点的干涉图时,会在处理结果中引入较大的算法误......